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프로젝트 설명

Regress Pro is scientific and industrial software that can be used to study experimental data coming from spectroscopic ellipsometers or reflectometers. The program has been developed mainly looking to the application of thin film measurement in semiconductor industry. The software is suitable both to determine the thickness of the layers and to determine the optical properties of dielectric materials.

System Requirements

System requirement is not defined
Information regarding Project Releases and Project Resources. Note that the information here is a quote from Freecode.com page, and the downloads themselves may not be hosted on OSDN.

2011-08-28 15:36
1.4.1

이것은 주로 버전 1.4.0에있는 몇 가지 버그 수정 및 약간의 유용성 측면을 향상 유지 보수 릴리스입니다. 이것은 복귀 프로의 모든 사용자에게 권장 업그레 이드됩니다.
Tags: Bugfixes
This is mainly a maintenance release that fixes some bugs present in version 1.4.0 and improves some minor usability aspects. This is a recommended upgrade for all the users of Regress Pro.

2011-08-04 15:46
1.4.0

이 릴리스에는 여러 향상된 기능을 소개합니다. 가장 중요한 실험 스펙트럼 및 모델 실험에 사용자를 수있는 상호 작용에 맞게 세션의 추가되었습니다. 새로운 분산 최적화 대화식 참조 분산에 대한 모델을 적응 구현되었습니다. 그래픽 엔진은 완전히 antigrain 라이브러리 (AGG)를 사용하여 재작 성되었다. 사용자의 설명서도 새로운 기능을 반영하기 위해 일부 누락된 부분을 추가하는 업데이 트되었습니다.
Tags: Major feature enhancements
This release introduces many improvements. The most important is the addition of an interactive fit session, which allows users to experiment with experimental spectra and models. A new dispersion optimizer has been implemented to interactively adapt a model to a reference dispersion. The graphical engine was completely rewritten to use the antigrain library (AGG). The user's manual was also updated to reflect the new features and to add some missing parts.

Project Resources